交配的接口配合接口的幾何形狀對連接器的性能也起著關(guān)鍵作用。一般來說，業(yè)界認(rèn)為最低反射與接口處接觸衰退最小的連接器有關(guān)。盡管有一些很好的理論來支持這個前提，但是不能平等地對待所有連接器類型。一些連接器接口提供的阻抗控制比人們想象的要少。

雖然3.5 mm接口(例A)提供了對中心接觸衰退的更好控制，但相關(guān)失配的實際阻抗約為80歐姆。在SMA的情況下，(例B)中心觸點衰退通常更大，但失配的阻抗通常更低，大約70歐姆。如果SMA連接器的電介質(zhì)同時凹入，則失配阻抗可能更高，但這種情況對于正確設(shè)計的SMA是罕見的。

因此，通過控制介質(zhì)衰退，SMA界面的理論阻抗失配將低于3.5 mm界面，從而降低sianal反射結(jié)論(s)系統(tǒng)設(shè)計者在為低駐波比指定連接器時應(yīng)考慮主機的幾何形狀。主(連接器)和次(電纜)接口尺寸之間的關(guān)系將影響連接器的設(shè)計拓?fù)浜驮O(shè)計的最終駐波比潛力。制造商的設(shè)計參數(shù)和工藝控制對連接器性能的影響要比連接器的系列或名稱大得多。